Correlative Microscopy: Carl Zeiss Presents Solution For Cross-platform-microscopy
Correlative Microscopy: Carl Zeiss Presents Solution For Cross-platform-microscopy 전자 현미경
제품 정보
He-Ion Microscope
ORION® PLUS
주사 전자 현미경
EVO® 시리즈,ΣIGMA, ULTRA SUPRA™ 및 MERLIN® 시리즈
투과 전자 현미경
LIBRA® 120 및 LIBRA® 200
CrossBeam® Workstations
AURIGA™, NEON® 60, NVision 40 and XVision Series
Particle Analysis
ParticleSCAN 및 SmartPI
신제품 소식
NVision 40 Argon
ΣIGMA
LIBRA® 120 PLUS
ORION® PLUS

teaser_max_kr
teaser_brainmapping_kr

enewsletterKV1_kr
전자 현미경은 오늘날 나노기술의 발전과 생산에 필수불가결한 기구이다.
주사전자현미경 Scanning Electron Microscopes(SEM)은 고 해상도로 물체의 표면정보를 읽어 많은 응용분야에서 사용되고 있다.
- 재료 분석
- 생명 과학
- 반도체 기술
- 품질 보증

분석기를 추가할수록 완벽한
나노 구조분석이 가능하다.

투과전자현미경 The transmission electron microscope (TEM)은 시료를 투과한 전자를 사용하여 이미지를 직접 스크린이나 카메라에 투영한다.현재 가능한 해상도는 0.1nm이상으로 원자크기정도까지 분석할 수 있다.