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SPECTRUM II 3차원 측정기

Carl Zeiss의 기술

이 브릿지 타입 3차원 측정기는 Carl Zeiss의 장비, 센서 및 소프트웨어 기술이 사용된 경제적인 보급형 3차원 측정기에 대한 시장의 기대에 부응합니다. 일반 측정용으로 설계된 SPECTRUM은 고객의 필요사항에 맞게 구성할 수 있습니다.

SPECTRUM II 3차원 측정기

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SPECTRUM II

SPECTRUM II 3차원 측정기

SPECTRUM II는 Carl Zeiss의 장비, 센서 및 소프트웨어 기술이 사용된 경제적인 보급형 3차원 측정기입니다.

주요 특징

 

  • Carl Zeiss RDS-C5 회전식 프로브 홀더에 XDT 멀티포인트 센서 또는 Renishaw TP20 터치 트리거 센서가 사용됩니다. 접근하기 어려운 위치의 각진 요소를 측정할 수 있습니다. 회전식 프로브 홀더의 양방향 회전 각도는 +/- 180도이며 두 가지 센서 모두 5도 단위로 5,184개의 각도 위치에 접근할 수 있습니다.
  • SPECTRUM을 XDT와 함께 구성할 경우, 각기둥형 부품도 측정할 수 있습니다.
  • CAA(Computer Aided Accuracy)를 기반으로 한 컴퓨터 유도 방식의 오류 교정으로 장비 기술의 동적 변형이 정확히 수정됩니다.

 

장비 기술

 

  • 화강암 정반 덕분에 측정기를 안정적으로 배치할 수 있습니다.
  • 사방에 Carl Zeiss의 에어 베어링이 설치되어 있어서 더욱 우수한 안정성과 측정 정확도가 보장됩니다.
  • 컨트롤러, 소프트웨어, 센서 및 추가 구성요소가 모두 ZEISS의 제품이기 때문에 최적의 호환성이 보장됩니다.
  • 컴퓨터에 구애 받지 않는 표준 제어 패널이 제공되므로 컴퓨터와 떨어져 있는 측정 위치에서 조이스틱을 사용하여 수동으로 제어할 수 있습니다. CNC의 작동 속도는 증속 구동 노브로 제어됩니다.
 

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