ZEISS Microscopy

재료용 현미경의 다양한 어플리케이션을 관찰해보세요.

유익한 인사이트를 담은 3가지 영상을 소개합니다.

고급 현미경 관찰법은 재료 구성과 구조에 새로운 시각을 제공합니다. 다양한 길이로 구현된 3차원 샘플 이미지를 관찰하고 현장 실험도 경험해보십시오. 이러한 기능을 통해 당신은 재료를 새로운 방식으로 합성하고, 분석하며 재료 고유의 특성들을 볼 수 있는 통찰력이 생길 수 있습니다.

아래 현미경으로 이러한 통찰력을 얻을 수 있는 짧은 영상 모음들을 확인해보십시오.

X-ray 현미경으로 구현된 기어 휠 내부 3D 투어가 이제 가능해집니다.

전통적인 표면 관찰을 넘어서 3D 이미징 및 분석 기술을 통해 더욱 세밀한 관찰이 가능합니다. X-ray 현미경의 비파괴 분석법으로 4D이미징 확장도 가능합니다.


다양한 대면적 파우치 셀 배터리 분석

이 어플리케이션 비디오는 미사용 파우치 셀 타입의 리튬 이온 배터리에 대한 멀티 모듈 현미경 분석의 일부를 보여주고 있습니다. 이 분석은 광학 및 SEM 현미경의 상관 관계를 분석합니다. anode (A), separator (S) 그리고 cathode (K)의 foil은 25mm SEM 샘플 스터브에 장착되어 있습니다.

이 영상에서의 첫 10초는 ZEISS Axio Imager Vario로 얻은 광학 현미경의 오버레이 이미지를 보여주며, 세계에서 가장 빠른 SEM이자 병렬의 61개 전자빔을 사용하는 ZEISS MultiSEM 505에 의해 획득한 1 mm2  면적 음극 포일의 상세한 이미지로 오버레이 되어 가장 빠른 속도를 보여줍니다. 다음으로는 1 mm2 의 시야에서 10 µm 시야로 확대하는 방법을 보여주며 가장 미세한 음극 재료 샘플을 분해할 수 있습니다. 여기서 다루는 영역대는 150억 개 이상의 이미지 픽셀이며 10초간 다시 전체 이미지로 돌아갑니다. 

개별 이미지들은 8nm 픽셀 크기 및 400ns 픽셀만큼 유지되며 이후 1keV 랜딩 에너지에서 2차 전자 신호를 사용한 이미지가 나타나 집니니다. 1 mm² 이내의 전체 면적에 대한 수집 시간은 스테이지 이동 및 이미지 스티칭을 포함해 7분 미만대를 기록합니다. 이는 동일한 이미징 파라미터를 사용하는 최첨단 단일 빔 SEM이 동일한 영역을 획득하는 데 약 3 시간이 필요한 것과 상당한 차이를 보입니다.

샘플 정보: U. Golla-Schindler 및 T. Bernthaler, IMFAA, 재료 연구 기관, Aalen 대학교.
 


in situ 현미경 분석 활용법

in situ 현미경 분석법으로 재료 분석 연구자들은 구조와 샘플 특성간의 연관성을 직접 관찰할 수 있는 기회를 얻고 어떻게 불량들이 생겨나는지 보다 잘 이해할 수 있습니다.


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