제4회 첨단기기 분석세미나

2017.09.20(수)-21(목), 충북대학교 공동실험실습관

오는 9월 20일(수), 21일(목) 양일간 충북테크노파크 공동실험실습관에서 첨단기기인 현미경의 기본원리 및 응용법에 대한 강의와 실습을 진행합니다.

이번 세미나에서는 컨포컬 현미경(LSM 800 Airyscan), 디지털 슬라이드 스캐너(Axio Scan.Z1), FE-SEM(Supra), FIB(Crossbeam) 등 다양한 현미경을 직접 접하실 수 있게 됩니다.  

아래 프로그램 스케줄을 확인하시고, 선착순 모집 및 인원제한이 있사오니 안내에 따라 신청해주시면 감사드리겠습니다. 

신청 기한 : 9월 17일(일)까지 

참가인원 : 이론강의 - 50명, 실험실습 - 20명

신청방법

1) 이메일 접수 : gloria.cbnu.ac.kr 에서 참가신청서 다운로드 후 yi jo @cbnu .ac .kr 로 신청

2) 온라인 접수 : gloria.cbnu.ac.kr 에서 로그인 후 '세미나 온라인신청시스템'으로 신청

 

오시는 길

장소 : 충북대학교 공동실험실습관

위치 : 충북 청주시 서원구 충대로1

충북대학교 공동실험실습관

9월 20일(수) - 컨포컬, 디지털슬라이드스캐너, FE-SEM 강의

Time Program Speaker
Location
09:30 – 10:00    접수 및 등록
10:00 – 12:00 컨포컬 현미경 기본원리 및 응용 김용재 부장 (ZEISS) 공동실험실습관 4층 시청각실
12:00 – 13:30 점심식사
13:30 – 15:30 디지털 슬라이드 스캐너 기본원리 및 응용 엄기수 대리 (ZEISS) 공동실험실습관 4층 시청각실
15:30 – 15:50 Coffee Break
15:50 – 17:50 전계방사형주사전자현미경 기본원리 및 응용 최민기 차장 (ZEISS) 공동실험실습관 4층 시청각실

9월 21일(목) Session 1. 컨포컬, 디지털슬라이드스캐너 실습

Time Program Speaker
Location
09:00 – 10:00    접수 및 등록
10:00 – 12:00 컨포컬 현미경 실습 - Basic 김용재 부장 (ZEISS) 공동실험실습관 202호
12:00 – 13:30 점심식사
13:30 – 15:00 컨포컬 현미경 실습 - Advanced
김용재 부장 (ZEISS)
공동실험실습관 202호
15:00 – 16:30 디지털 슬라이드 스캐너 실습 - 1조 엄기수 대리 (ZEISS) 공동실험실습관 211호
16:30 – 18:00 디지털 슬라이드 스캐너 실습 - 2조
엄기수 대리 (ZEISS)
공동실험실습관 211호

9월 21일(목) Session 2. FE-SEM 실습, FIB 강의 & 실습

Time Program Speaker
Location
09:00 – 10:00    접수 및 등록
10:00 – 12:00 집속이온빔장치 이론강의 최민기 차장 (ZEISS) 공동실험실습관 4층 시청각실
12:00 – 13:30 점심식사
13:30 – 14:30 전계방사형주사전자현미경 실습 - Basic
최민기 차장 (ZEISS)
공동실험실습관 107호
14:30 – 15:30 전계방사형주사전자현미경 실습 - Advanced 최민기 차장 (ZEISS)
공동실험실습관 107호
15:30 – 15:50 Coffee Break
15:50 – 16:50 집속이온빔장치 실습 - Basic 최민기 차장 (ZEISS) 공동실험실습관 221호
16:50 – 17:50 집속이온빔장치 실습 - Advanced 최민기 차장 (ZEISS) 공동실험실습관 221호

신청 문의

- Confocal : 김 현 / 043-261-2938

- FE-SEM  : 이정희 / 043-261-2940

- FIB / 디지털슬라이드스캐너 : 허민선 / 043-261-3125

- 접수문의 : 충북대학교 공동장비활용센터 조하은 (Tel. 043-249-1788 / Email. yi jo @cbnu .ac .kr )

장비 소개

LSM 800 with airyscan

  • 초고감도 GaAsP PMT 최대 3개 장착 가능
  • 초고해상도 Airyscan detector 장착 가능
  • ZEISS 특허인 2개의 VSD(variable second dichroic mirror) 이용해 crosstalk 없는 다중형광염색 시료 분석
  • 초당 8 frames/sec의 빠른 리니어 스캔 및 최대 6,000 x 6,000 픽셀의 프레임 스캔
  • Focus map 의 정확하고 빠른 tile scan으로 대형 시료의 고해상도 이미징 및 Spectral imaging and unmixing 가능
  • 장시간 생세포 실험을 위한 다양한 초점 유지 기법

Axio Scan.Z1

  • 한 시스템 내 Bright field, Fluorescence 샘플 촬영 가능
  • ZEISS만의 우수한 Auto-focusing 기능을 바탕으로 세포에서부터 조직까지 다양한 샘플 스캔 가능
  • LED 형광광원을 사용하여 빠른 이미징, 샘플의 형광 bleaching 감소
  • 40ms 고속 Filter Wheel 및 고감도 카메라로 짧은 노출시간 보장
  • 최대 9개의 독립된 형광채널을 구성하여 형광간섭이 없는 이미지 획득

FE-SEM

  • 샘플의 Bias를 걸어주지 않아도 저전업에서 고해상도 이미지 구현
  • 기존 GEMINI 칼럼의 In-lens SE보다 20배 높은 검출 기능 보유
  • 향상된 VP기능으로 높은 진공에서 분석하는 것과 같은 저진공 분석 가능

FIB(Crossbeam 540)

  • 검증된 기능의 전자 광학계 GEMINI칼럼과 차세대 FIB칼럼을 사용해 나노 크기의 샘플을 가공 및 분석
  • 모듈 형식의 구조는 큰 챔버와 다양한 3rd 장비로 사용자에 맞는 최신 연구 장비로 구성 가능
  • 장시간 분석에도 일정하고 안정된 사용 가능
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