ZEISS 최신 재료 분석 기술 세미나

2018.02.21(수), 공주대학교 공동실험실습관

Overview

자이스 코리아는 오는 2월 21일(수) 공주대학교 공동실험실습관에서 재료 분석 분야에 대한 최신 기술 및 어플리케이션에 대해 소개하는 세미나가 열립니다. 재료 분석용 광학 현미경에서부터 SEM, FE-SEM, EDS 등 다양한 컨텐츠에 대한 내용을 소개할 계획입니다. 특히 세미나 이후에는 최근 공주대학교 공동실험실습관에 설치된 FE-SEM인 Sigma 500 장비 투어 시간이 마련될 예정이오니 많은 참석과 관심 부탁 드립니다.

  • 일시 : 2월 21일(수) 오후 1시 30분~4시 40분
  • 장소 : 공주대학교 천안공과대학 6공학관 204호 (주소 : 충남 천안시 서북구 천안대로 1223-24 (부대동 275)) 
  • 접수기간 : 2월 19일(월)까지 아래 신청 폼을 통해 접수
  • 접수인원 : 25명, 장비 투어는 현장 선착순 등록을 통해 접수
  • 참고 : 참가비 무료, 강의자료 제공
  • 문의 : 현미경 사업부 강효림 대리 (02-3140-2729, Email)

 

Time table

Time Content Speaker

13:30 - 14:10

재료 분석용 광학현미경 소개 및 분석법

박병준 부장(ZEISS)

14:10 - 14:50

SEM 소개 및 분석법

성태석 과장(ZEISS)

14:50 - 15:00

Break

-

15:00 - 15:40

FE-SEM 이론 및 응용

최민기 차장(ZEISS)

15:40 - 16:20

EDS 이론 및 응용

최성지 대리(Bruker)

16:20 - 16:40

장비 Tour (ZEISS FE-SEM, Sigma 500)

최민기 차장(ZEISS)

Registration

ZEISS FE-SEM : Sigma Family

ZEISS Sigma Family는 나노 스케일 분석을 위한 FE-SEM으로 고품질의 이미지를 구현하는 Gemini 칼럼과 고유의 디자인으로 짧은 작업거리(WD)의 고급 분석이 가능합니다.

Features

  • Image Navigation - Sample Type Selection - Automated Intelligent Imaging - Smart Browse 4단계 Workflow로 분석 효율성 증대
  • Image Navigation 기능을 사용하여 빠르고 쉽게 관심 영역 획득
  • 최신 검출 기술로 샘플의 다양한 특성 표현
  • 저가속전압에서 안정적이고 탁월한 이미지를 구현