고속 3D 초고해상도 현미경 - Lattice SIM Workshop

2020.02.18(화) 오전 10시

안녕하세요. 자이스 코리아는 오는 2월 18일(화) 서울대학교 치의학대학원에서 고속 3D 초고해상도 현미경인 Lattice SIM 장비인 'Elyra 7' 장비 시연 워크샵을 개최합니다. 이번 워크샵은 2014년 노벨 생화학상을 수상하였고 이보다 더 진보된 Lattice SIM 이론 및 시연을 국내 최초로 선보이게 됩니다. 아래 아젠다와 신청 양식을 참조해주시어 관심있으신 분들의 많은 참가 부탁 드립니다. 

 

  • 일시: 2월 18일(화) 오전 10시
  • 장소: 서울대학교 치의학대학원 관악캠퍼스 (86동 207호 강의실)
  • 연자: ZEISS APAC Dr. Xianke Shi (Application and Business Development Manager)
  • 참가비: 무료
  • 제공사항: 점심식사
  • 유의사항: 중국의 신종 코로나바이러스 확산으로 인해 최근 해외 여행력이 있으신 분들은 참가가 어려움을 알려드립니다. 또한 신청하신 분들은 감염증 예방을 위한 개인 마스크 지참 부탁 드립니다.

ZEISS Elyra 7

Your Flexible Platform with Lattice SIM for Fast and Gentle 3D Superresolution

Features
 
  • 원리: Lattice SIM
  • 고속: 일반 SIM은 grid를 적어도 3번 회정시켜야 해서 빠른 시간 분해능을 갖는 초고해상도 이미지 결과를 얻기에 한계가 있으나 Lattice SIM은 로테이션 없이 매우 빠른 시간 분해능을 갖는 초고해상도 이미지 결과 제공
  • 시료의 두께: stripe pattern이 아닌 spot으로 구성된 lattice pattern으로 조사되기에 기존 SIM에서 얻을 수 없었던 두꺼운 조직의 초고해상도 이미지 결과 구현
Configuration
 
  • Resolution: Lateral resolution = 120nm, Axial resolution = 300nm
  • Speed(512x512 pixels): 17 images/sec (3D Lattice SIM), 255 frames/sec (Burst mode)
  • Pattern illumination 중첩을 극소화하여 광독성 및 광표백현상 최소화
  • 관찰 가능한 시료 두께의 획기적인 증가: 일반 SIM - 10 µm 이하, Lattice SIM - 50 µm 이상
  • 전자 현미경과 상호 연관형 이미지 실험 가능: CLEM(correlative light and electron microscopy)

ZEISS Elyra 7

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Lattice SIM 3D Imaging

Timetable

Time

Contetns

Speaker

10:00 - 11:30

Lattice SIM 원리 및 응용

Dr. Xianke Shi

11:30 - 13:00

Lunch

13:00 -14:15

Hands on

*서울대 치대 내부 연구자분들에 대한 실습 신청은 별도로 신청 공지 드립니다.

사전신청 마감 - 현장 신청으로만 받습니다.