
직관적인 조작으로 최적의 이미징을 구현하는 ZEISS SEM 분석 웨비나
2020.04.29(화) 오후 2시

PCB aids visualization

Memory chip surface damage

Smartsem Touch 기능 탑재

광학현미경과의 연계 분석 가능
웨비나 소개
이 웨비나는 시료의 종류와 크기에 크게 제약 없이 연구개발 및 산업 전 분야에서 사용될 수 있는 다목적용 ZEISS 주사전자현미경 분석법을 주제로 진행됩니다.
특히, 저전압 이미지의 퀄리티와 저진공 기능 덕분에 시료 전처리 프로세스를 감축할 수 있으며, 전도성 코팅이 되지 않은 실제 표면 분석이 가능합니다.
사용자에게는 직관적인 유저 인터페이스와 단순한 4 단계의 작업만으로도 편리한 이미징이 가능하고, 자동 이미징 기능을 활용하여 간단한 교육으로 쉽게 반복 작업을 할 수 있습니다.
- 강의: 이유나 (ZEISS Korea Product Application and Sales Specialist)
- 일정: 14:00~14:30 강의, 14:30~14:40 질의응답
- Highlights
- 주사전자현미경 EVO 기능 및 장점
- 주사전자현미경 EVO 활용한 분석예
- 신청방법
- 아래 신청 양식 작성
- 신청시 작성한 메일로 웨비나 당일에 들어갈 GotoWebinar 접속 링크 확인 및 GotoWebinar 프로그램 미리 다운받기
- GotoWebinar 접속 링크를 통해 메일 승인, 웨비나 참가 가능한 링크 통해 웨비나 입장!
유의사항
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