Surface Analysis
Ultrafast material processing of large samples
ZEISS Mat Week, STAY TUNED
2020.06.02(화) - 06.04(목), 오후 2시
3일간 웨비나로 진행되는 재료 분석용 ZEISS 현미경에 대한 모든 것!
ZEISS Mat Week에서는최신 재료 분석법 중에서도 가장 파워풀한 ZEISS 현미경 분석법들만을 모아 컴팩트하고 알기 쉽게 인사이트를 얻으실 수 있습니다. 아래 자세한 프로그램을 확인하시고 지금 바로 신청하세요!
- 6월 2일(화) 14시: Laser and LED confocal microscopy for materials & Software Automation Solution
- 6월 3일(수) 14시: FE-SEM & FIB - LaserFIB, Cryo FIB
- 6월 4일(목) 14시: X-ray Microscopy & Helium Ion Microscopy
위 3일간의 프로그램은 하루씩 각각 신청하셔야 하므로 여러 프로그램을 들으시려면 프로그램마다 신청 부탁 드립니다.
유의사항
신청자분들은 필독!
- 이 웨비나는 온라인으로 진행되는 웹 세미나입니다. 신청을 하신 뒤 Gotowebinar 접속 링크를 최종적으로 받으셔야 신청 완료됩니다.
- 이 웨비나는 연구자분들을 위한 프로그램입니다. 타장비 관계자분들의 참여는 제한될 수 있습니다. 제품 관련 궁금하신 점 있으시면 Email 으로 문의 주시기 바랍니다.
- 프로그램 중 APAC Specialist 연자로 진행되는 세션은 원활한 진행을 위해 레코딩으로 진행됩니다. 중간에 웨비나 창을 나가시면 다시 접속 시 처음부터 자동 플레이되므로 채널 꼭 고정해주셔야 합니다. 이 외 Q/A 세션 및 자이스 코리아 연자 세션은 모두 LIVE로 진행됩니다.
- 사내 외부 프로그램 접속 또는 다운로드가 어려우신 분들은 모바일로 Gotowebinar 어플을 다운받으셔서 들으시길 권해드립니다. 상기 안내에 따라 중간에 웨비나를 놓치셨더라도 실망하지 마세요. 참가자 전원에게 웨비나 이후 레코딩 자료를 공유해드립니다.
- 이 외 궁금하신 사항이 있으시다고요? Email 이메일로 연락 주시면 답변 드리겠습니다.
ZEISS Mat Week 이벤트
- 설문 이벤트: 웨비나를 듣고 적극적으로 설문에 응해주신 분들 중 Day마다 10분, 총 30분께 커피 쿠폰 증정!
- 출석 이벤트: 3일간의 웨비나 중 2일 이상 웨비나에 신청 및 참석하신 분 중 Day마다 10분, 총 30분께 ZEISS 럭키박스 증정!
Day 1: Laser and LED confocal microscopy for materials & Software Automation Solution
Time |
Topic |
Speaker |
14:00 - 14:50 |
Laser and LED confocal microscopy for materials: Smartproof 5, LSM 900 for Materials |
이유나 |
14:50 - 15:40 |
Smart Microscopy: Using Machine Learning, Cloud Computing and Automation |
Dr. Manoj Matthew & Dr. Vignesh Viswanathan |
- Laser and LED confocal microscopy for materials
재료 샘플의 표면 구조, 조도 분석을 하기 위해 활용될 수 있는 장비는 여러가지가 있지만 그 중 광원을 사용한 비접촉식 조도 측정 장비인 공초점 현미경에 대한 강의입니다. 공초점 원리를 통해 표면분석에 공초점 현미경이 필요한 이유를 살펴보고 조도측정, 막 두께 측정 등 다양한 활용법에 대해 소개할 예정입니다.
- Smart Microscopy: Using Machine Learning, Cloud Computing and Automation
A smart microscope employs tools to aqcquire images easier and faster as well extract information from images. This talk will introduce a Machine Learning based image segmentation tool called ZEN Intellesis, a cloud based analysis tool called APEER as well as ways to improve productivity through automation.


Day 2: FE-SEM & FIB
Time |
Topic |
Speaker |
14:00 - 14:50 |
FE-SEM for the Highest Demand in Imaging for Non-Conductive Sample |
박병준 부장 |
14:50 - 15:40 |
A massive material ablation by fs-laser with FIB-SEM |
유지희 대리 |
15:40 - 16:30 |
Applications of Cryogenic FIB-SEM in Materials Research |
Dr. Hanfang Hao |
- FE-SEM for the Highest Demand in Imaging for Non-Conductive Sample
- A massive material ablation by fs-laser with FIB-SEM
- Applications of Cryogenic FIB-SEM in Materials Research



Day 3: X-ray Microscopy & Helium Ion Microscopy
Time |
Topic |
Speaker |
14:00 - 14:50 |
Premier 4D & In Situ Solution |
최민기 차장 |
14:50 - 15:40 |
Orion NanoFab – A Platform for High Resolution Imaging, Advanced sub-10 nm Fabrication and Spectroscopic Analysis |
Dr. Vignesh Viswanathan |
- Premier 4D & In Situ Solution
긴 거리의 작업거리에서도 높은 분해능으로 샘플의 변화를 관찰 할 수 있게 도와주는 RaaD™ 기능은 microCT에서의 한계를 극복하여 In-situ 연구를 할 수 있도록 도와줍니다.
- Orion NanoFab – A Platform for High Resolution Imaging, Advanced sub-10 nm Fabrication and Spectroscopic Analysis

