Surface Analysis

Real Surface High-resolution Imaging for Insulating Materials

Ultrafast material processing of large samples

Large depth of field imaging｜Nanofabrication

Machine Learning ｜Cloud Computing｜Automation

ZEISS Mat Week, STAY TUNED

2020.06.02(화) - 06.04(목), 오후 2시

.. 일 .. 시간 .. 분 .. 초
Overview
Day 1
Day 2
Day 3

3일간 웨비나로 진행되는 재료 분석용 ZEISS 현미경에 대한 모든 것!

ZEISS Mat Week에서는최신 재료 분석법 중에서도 가장 파워풀한 ZEISS 현미경 분석법들만을 모아 컴팩트하고 알기 쉽게 인사이트를 얻으실 수 있습니다. 아래 자세한 프로그램을 확인하시고 지금 바로 신청하세요!

  • 6월 2일(화) 14시: Laser and LED confocal microscopy for materials & Software Automation Solution
  • 6월 3일(수) 14시: FE-SEM & FIB - LaserFIB, Cryo FIB
  • 6월 4일(목) 14시: X-ray Microscopy & Helium Ion Microscopy

위 3일간의 프로그램은 하루씩 각각 신청하셔야 하므로 여러 프로그램을 들으시려면 프로그램마다 신청 부탁 드립니다.

유의사항

신청자분들은 필독!

  • 이 웨비나는 온라인으로 진행되는 웹 세미나입니다. 신청을 하신 뒤 Gotowebinar 접속 링크를 최종적으로 받으셔야 신청 완료됩니다.
  • 이 웨비나는 연구자분들을 위한 프로그램입니다. 타장비 관계자분들의 참여는 제한될 수 있습니다. 제품 관련 궁금하신 점 있으시면 Email 으로 문의 주시기 바랍니다.
  • 프로그램 중 APAC Specialist 연자로 진행되는 세션은 원활한 진행을 위해 레코딩으로 진행됩니다. 중간에 웨비나 창을 나가시면 다시 접속 시 처음부터 자동 플레이되므로 채널 꼭 고정해주셔야 합니다. 이 외 Q/A 세션 및 자이스 코리아 연자 세션은 모두 LIVE로 진행됩니다.
  • 사내 외부 프로그램 접속 또는 다운로드가 어려우신 분들은 모바일로 Gotowebinar 어플을 다운받으셔서 들으시길 권해드립니다. 상기 안내에 따라 중간에 웨비나를 놓치셨더라도 실망하지 마세요. 참가자 전원에게 웨비나 이후 레코딩 자료를 공유해드립니다.
  • 이 외 궁금하신 사항이 있으시다고요? Email 이메일로 연락 주시면 답변 드리겠습니다.

ZEISS Mat Week 이벤트

  • 설문 이벤트: 웨비나를 듣고 적극적으로 설문에 응해주신 분들 중 Day마다 10분, 총 30분께 커피 쿠폰 증정!
  • 출석 이벤트: 3일간의 웨비나 중 2일 이상 웨비나에 신청 및 참석하신 분 중 Day마다 10분, 총 30분께 ZEISS 럭키박스 증정!

바이오 현미경 웨비나 프로그램 보기

Day 1: Laser and LED confocal microscopy for materials & Software Automation Solution

Time

Topic

Speaker

14:00 - 14:50

Laser and LED confocal microscopy for materials: Smartproof 5, LSM 900 for Materials

이유나

14:50 - 15:40

Smart Microscopy: Using Machine Learning, Cloud Computing and Automation

Dr. Manoj Matthew & Dr. Vignesh Viswanathan
  • Laser and LED confocal microscopy for materials

재료 샘플의 표면 구조, 조도 분석을 하기 위해 활용될 수 있는 장비는 여러가지가 있지만 그 중 광원을 사용한 비접촉식 조도 측정 장비인 공초점 현미경에 대한 강의입니다. 공초점 원리를 통해 표면분석에 공초점 현미경이 필요한 이유를 살펴보고 조도측정, 막 두께 측정 등 다양한 활용법에 대해 소개할 예정입니다.

  • Smart Microscopy: Using Machine Learning, Cloud Computing and Automation

A smart microscope employs tools to aqcquire images easier and faster as well extract information from images. This talk will introduce a Machine Learning based image segmentation tool called ZEN Intellesis, a cloud based analysis tool called APEER as well as ways to improve productivity through automation.

Volumetric measurement with LSM 900 for materials
ZEN Intellesis

Day 2: FE-SEM & FIB

Time

Topic

Speaker

14:00 - 14:50

FE-SEM for the Highest Demand in Imaging for Non-Conductive Sample

박병준 부장

14:50 - 15:40

A massive material ablation by fs-laser with FIB-SEM

유지희 대리

15:40 - 16:30

Applications of Cryogenic FIB-SEM in Materials Research

Dr. Hanfang Hao
  • FE-SEM for the Highest Demand in Imaging for Non-Conductive Sample
FE-SEM 분석에서 비전도성 재료는 전도성 재료로 표면을 코팅하기 전에는 관찰이 어렵거나 불가능하다고 알려져 있습니다. 물론 다양한 메이커에서 솔루션으로 제안하는 저전압, 저진공기법들은 규격상 수치는 좋아보이나  복잡한 작동법으로 높은 수준의 장비 운영 기술을 요구하거나 원하는 해상도나 이미지 퀄리티를 얻지 못해, 실제 시료분석에서는 신뢰 받지 못하는 경우가 많습니다. 이번 웨비나를 통해서 ZEISS만의 특화된 기술로 구현하는 비전도성 재료의 이미징 방법을 소개하도록 하겠습니다.
  • A massive material ablation by fs-laser with FIB-SEM
LaserFIB 현미경은 매우 짧은 파장의 레이저인 femtosecond(fs) lase와 FIB-SEM 현미경입니다. 레이저에 의한 대면적 재료 절삭을 통해 패키징 전자 재료나 디스플레이 등의 내부 깊숙이 묻혀 있는 구조물에 신속하게 접근할 수 있으며, 그 후 접근한 관심 영역에 대한 분석은 FIB-SEM으로 분석할 수 있습니다. Laser에 의해 유발되는 샘플 손상이나 열 손상은 미미하기 때문에 많은 연구 분야에서 주목받고 있습니다. 이번 웨비나를 통해서 fs-laser에 대해 소개하고 그 활용에 대해 소개하도록 하겠습니다.
  • Applications of Cryogenic FIB-SEM in Materials Research
Cryogenic temperature helps to preserve hydrated samples at its native status and protect beam sensitive samples during FIB work. In this presentation, various examples of Cryo FIB work in materials science such as wet samples, battery, TEM Sample prep are highlighted. A brief overview of the sample preparation and the workflow using ZEISS Crossbeam system for Cryo FIB work will also be discussed.
Li ion Battery Separator Foil
Crossbeam LaserFIB
Cryo SEM vs Cryo FIB-SEM

Day 3: X-ray Microscopy & Helium Ion Microscopy

Time

Topic

Speaker

14:00 - 14:50

Premier 4D & In Situ Solution

최민기 차장

14:50 - 15:40

Orion NanoFab – A Platform for High Resolution Imaging, Advanced sub-10 nm Fabrication and Spectroscopic Analysis

Dr. Vignesh Viswanathan
  • Premier 4D & In Situ Solution
X-ray 현미경을 사용하면 재료의 3D 미세 구조를 비파괴로 연구할 수 있을 뿐 아니라 In-situ 실험을 통해서 온도, 압력, 장력 테스트 등을 할 수 있습니다.
긴 거리의 작업거리에서도 높은 분해능으로 샘플의 변화를 관찰 할 수 있게 도와주는 RaaD™ 기능은 microCT에서의 한계를 극복하여 In-situ 연구를 할 수 있도록 도와줍니다.
  • Orion NanoFab – A Platform for High Resolution Imaging, Advanced sub-10 nm Fabrication and Spectroscopic Analysis
The Orion NanoFab is the first tool employing 3 ion beams (He, Ne and Ga) for advanced imaging and characterization at the sub-10nm scale. In this webinar, we will present the core Gas Field Ion Source technology and the highlight the applications where high resolution imaging on various samples is achieved and fabrication of the devices that was limited to simulations is now a reality. With the addition of a SIMS detector, high resolution analytical mapping of low Z elements is also now possible with this instrument.
X 선 소스 (왼쪽), 장력, 압축이 가능한 in-situ stage(중앙), 검출기 (오른쪽)
(왼쪽) Pd coated ZnO nanowires (오른쪽) Lithography of Nanogears