
터치 프로브
높은 정확도와 다양한 측정 작업CMM의 터치 프로브 헤드
터치 프로브는 매우 높은 수준의 정확도가 필요한 경우에 적합한 선택입니다. 질감 측정 기술에서는 부품의 표면을 한 점씩 측정하거나 프로브에 따라 고속으로 스캔합니다. ZEISS는 고객의 용도에 적합한 솔루션을 제공하기 위해 다양한 터치 프로브 헤드를 제공합니다.단일 포인트 측정과 ZEISS 스캐닝 기술 비교
스캔을 통해 단일 포인트 측정보다 짧은 시간에 더 많은 포인트를 측정할 수 있으므로 더 빠르고 정확한 측정이 가능합니다.단일 포인트 측정
단일 포인트 프로브로 측정할 때는 개별 포인트만 측정됩니다. 그런 다음 스타일러스를 이동하고 이 과정을 반복해야 합니다. 측정 포인트 사이의 조건은 보간을 통해 계산되므로 측정 편차가 발생할 수 있습니다. 단일 포인트 프로브를 사용한 측정은 처리량이 적고 공차가 큰 경우에 적합합니다. ZEISS RDS와의 조합이 가능합니다.
스캐닝 기술
스캔하는 동안 프로브는 매끄럽고 연속적으로 움직이며 스타일러스가 표면 위로 이동하면서 매우 짧은 시간에 경로를 따라 수백 개의 포인트를 측정합니다. 이 워크 플로우는 훨씬 더 많은 데이터를 더 높은 처리량으로 제공할 뿐만 아니라 시간도 크게 절약할 수 있습니다.
스캐닝 프로브는 뛰어난 정확도로 처리량이 많은 경우에 적합합니다.
통합 스캐닝 워크 플로우의 장점
단일 포인트 측정에서는 보간을 통해 개별 포인트 간의 비율이 결정되지만, 스캐닝 기술은 훨씬 더 많은 데이터를 캡처하고 측정 신뢰도과 정확도를 높일 수 있습니다. 스캔 속도가 빠르면 측정 처리량이 증가하고 가능한 한 많은 부품의 편차를 확인할 수 있습니다. 또한 스캔 속도가 빨라지면 필요한 좌표 측정기의 수가 줄어들고 문제를 더 빨리 감지할 수 있어 측정물의 불량율 및 재작업이 줄어듭니다.