zeiss x bruker joint seminar

최신 전자 현미경 & 분석 기술 트렌드를 한 자리에서

From Images to Insights
자이스 코리아 이노베이션 센터
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ZEISS와 Bruker가 함께 준비한 Joint Seminar에 여러분을 초대합니다!

본 세미나는 최신 전자 현미경 및 분석 기술 동향을 공유하고, 실제 연구 및 산업 현장에서 활용 가능한 이미징 및 분석 솔루션을 소개하기 위해 마련되었습니다.

최근 재료과학, 반도체, 배터리, 나노소재 등 다양한 분야에서는 시료의 미세 구조를 보다 정밀하게 관찰하고, 그 특성과 조성을 빠르고 정확하게 분석하는 기술의 중요성이 더욱 커지고 있습니다. 이에 따라 고해상도 이미징은 물론 데이터 획득부터 분석까지 이어지는 통합적인 워크플로우와 효율적인 분석 솔루션에 대한 관심도 높아지고 있습니다.

이번 세미나에서는 ZEISS의 advanced SEM/FIB-SEM imaging 기술과 acquisition & analysis를 아우르는 all-in-one 솔루션을 통해 다양한 시료와 어플리케이션에 유연하게 대응할 수 있는 전자 현미경 기반 분석 워크플로우를 소개합니다. 또한 Bruker의 최신 EDS 및 EBSD 분석 솔루션을 함께 살펴보며 저가속 전압 조건에서의 고신호 나노스케일 분석과 빠르고 효율적인 결정방위 분석 기술의 가능성을 확인하실 수 있습니다.

세션 이후에는 희망자에 한해 데모 장비를 직접 확인하실 수 있는 센터 투어도 진행될 예정입니다. 최신 이미징 및 분석 기술이 실제 연구와 산업 현장의 분석 과제를 어떻게 해결할 수 있는지 직접 확인하고, 재료 분석의 새로운 가능성을 함께 살펴 보세요!

세미나 하이라이트 미리보기

  • 자동 이미지 획득부터 다양한 AI 분석까지 가능한
    올인원 소프트웨어 솔루션
     
  • ZEISS Crossbeam
    - 어떤 까다로운 시료도 맞춤형으로 다루는 유연함
    - 작업 과정을 눈으로 직접 확인하는 실패 없는 정밀함

     

  • 3D 분석을 통한 진정한 재료 인사이트

  • High Performance EDS

  • Next-Generation High-Speed EBSD

  • (희망자 대상) 센터 투어

세션 안내

주제
발표자

13:00 - 13:40

[ZEISS session]
ZEISS all-in-one Solutions for Acquisition & Analysis

ZEISS 코리아 Product Application Specialist & Sales
이유나 차장

13:50 - 14:30

[ZEISS session]
ZEISS FIB-SEM: Ultimate flexibility for your samples and applications

ZEISS 코리아 Product Application Speicalist & Sales
최민기 부장

14:30 - 14:50

Break

14:50 - 15:30

[Bruker session]
BRUKER FlatQUAD - Enabling High-Signal Nanoscale EDS Analysis at Low Accelerating Voltages with Ultra-Fast Detection

Bruker 코리아
최성지 차장

15:40 - 16:20

[Bruker session]
BRUKER eWARP - The fastest, most signal efficient EBSD detector ever

Bruker 코리아
최성지 차장

16:30 - 16:45

[희망자 대상]
자이스 코리아 이노베이션 센터 투어

지금 바로 ZEISS x Bruker Joint Seminar에 신청하세요!

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