zeiss x oxford joint seminar

최신 전자 현미경 & 분석 기술 트렌드를 한 자리에서

From Images to Insights
수원컨벤션센터 회의실 204호
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ZEISS와 Oxford가 함께 준비한 Joint Seminar에 여러분을 초대합니다!

본 세미나는 최신 전자 현미경 및 분석 기술 동향을 공유하고, 실제 연구 및 산업 현장에서 활용 가능한 이미징 및 분석 솔루션을 소개하기 위해 마련되었습니다.

최근 재료과학, 반도체, 배터리, 나노소재 등 다양한 분야에서는 시료의 미세 구조를 정밀하게 관찰하는 것을 넘어 원소 조성, 결정 구조, 변형 정보, 화학적 특성까지 다각도로 분석하는 기술의 중요성이 더욱 커지고 있습니다. 이에 따라 고해상도 이미징은 물론, 이미지 획득부터 정량 분석과 인사이트 도출까지 이어지는 통합 분석 워크플로우에 대한 관심도 높아지고 있습니다.

이번 세미나에서는 ZEISS의 최신 SEM/FIB-SEM 이미징 기술을 통해 다양한 시료와 어플리케이션에 유연하게 대응할 수 있는 분석 워크플로우를 소개합니다. 또한 Oxford의 최신 EDS, EBSD 및 SEM-Raman 연계 분석 솔루션을 함께 살펴보며, 고성능 원소 분석부터 고속 결정방위 분석, Raman 기반 화학 정보 분석까지 확장되는 폭넓은 분석의 가능성을 확인하실 수 있습니다.

최신 이미징 및 분석 기술이 실제 연구와 산업 현장의 분석 과제를 어떻게 해결할 수 있는지 직접 확인하고, 이미지에서 인사이트로 이어지는 재료 분석의 새로운 가능성을 함께 살펴보세요!

세미나 하이라이트 미리보기

  • 다양한 시료와 어플리케이션에 유연하게 대응하는 FE-SEM
  • 반도체 및 첨단 소재 분석을 위한 fs-laser 기반의 FIB-SEM

     

  • 저전압에서 구현하는 고감도·고해상도 EDS 분석

  • 결정방위부터 변형 분석까지 확장되는 고속 결정학 EBSD 분석

  • SEM 구조 정보와 Raman 화학 정보를 결합하는 연계 분석

세션 안내

주제
발표자

10:00 - 10:30

Registration

10:30 - 11:20

[ZEISS session]
One FE-SEM for All Materials: Introduction to ZEISS FE-SEM

ZEISS 코리아 Product Application Specialist & Sales
정은진 과장

11:30 - 12:30

[ZEISS session]
Introduction to ZEISS Crossbeam with fs-laser: Semiconductor & Advanced Materials Applications

ZEISS 코리아 Product Application Speicalist & Sales
강은지 과장

12:30 - 13:30

Lunch

13:30 - 14:20

[Oxford session]
EDS 분석 원리와 응용 (Extreme, UNITY)

Oxford 코리아
오심건 과장

14:30 - 15:20

[Oxford session]
EBSD 분석 원리와 응용 (Pattern simulation, Strain analysis)

Oxford 코리아
이건용 차장

15:30 - 16:20

[Oxford session]
Raman 분석 원리와 응용 (SEM-Raman 연계 분석)

Oxford 코리아
오심건 과장

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