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New ZEISS Sigma Family

더욱 진보된 FE-SEM으로 만나는 이미징 혁신

사용자 경험으로 더욱 업그레이드된 최신 FE-SEM ⭐ New ZEISS Sigma Family ⭐를 소개합니다! 이미징 및 분석 과정 구조화를 통한 생산성 향상 뿐만 아니라, 새로운 물질, 입자 구조를 연구하기 위한 다양한 어플리케이션을 만나보세요.

이제 더 이상 고해상도 이미징을 위해 고민하지 마세요. 1 kV 이하의 저전압 이미징을 통해 향상된 해상도와 대비를 경험하실 수 있습니다. 최신 EDS Geomtry를 활용하여 빠르고 정확하게 분석 데이터를 얻는 것도 가능하죠.

믿고 듣는 자이스 웨비나, 이번에는 New ZEISS Sigma Family와 함께 여러분을 최신 나노 분석의 세계로 초대합니다!

New ZEISS Sigma Family 하이라이트

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누구나 쉽게, 직관적인 이미징 워크플로우.

기본 셋업부터 AI 실험 결과까지

아직 현미경 사용이 익숙치 않으신가요? 걱정하지 마세요! 이미지 탐색에서부터 프로세싱에 이르기까지, 각 단계를 간소화할 수 있는 워크플로우가 여기 있습니다. 사용하기 쉽고 배우기 쉬워 교육 시간을 줄일 수 있고 전문적인 결과도 빠르게 얻을 수 있을 거에요.

ZEISS SmartSEM Touch의 자동화 소프트웨어는 여러분을 대신해 이미지 탐색부터 파라미터 설정, 이미지 획득까지 진행할 수 있습니다.

여기에 작업별 툴킷을 갖춘 프로세싱에 최적화된 ZEN core까지! 머신러닝 기반의 AI 툴킷을 이용한 이미지 세분화를 경험해보세요.

완벽하게 수행하는 VP 이미징.

분석과 이미징 모두를 위한 NanoVP lite Mode

더욱 새로워진 NanoVP lite mode와 검출기를 통해 5 kV 미만의 비전도체에서도 높은 품질의 데이터를 쉽게 얻으세요.
결과적으로는 이미징 자체와 EDS 분석 모두 향상되고, 개선된 1차 빔 전류를 통해 보다 민감한 표면 정보를 빠르게 획득하여 EDS 매핑 시간을 단축시킬 수 있습니다.
aBSD (annular backscatter electron detector)와 차세대 C2D (cascade current)와 같은 새로운 검출기를 활용하면 저전압 이미징의 장점을 극대화할 수 있습니다.

까다로운 샘플 이미징도 쉽게.

'1 kV 이하'의 차이점

1 kV, 나아가 500 V에서 최상의 정보를 제공하는 이미징과 분석을 만나보세요. (Sigma 500의 low-kV 해상도는 500 V에서 1.5 nm)
aBSD 혹은 C2D 검출기를 사용하여 최대 3 kV까지 가속 전압을 낮출 수 있는 새로운 NanoVP lite mode를 통해 까다로운 샘플도 쉽게 관찰하세요.
전자기기 연구를 진행 중이시라면, 클린한 환경 유지 또한 중요하실 텐데요, 플라즈마 클리너와 6" 웨이퍼까지 수용할 수 있는 대형 에어록으로 챔버를 오염으로부터 보호하세요. 강력히 추천 드립니다!

웨비나 소개

제목	더욱 진보된 FE-SEM으로 만나는 이미징 혁신
강연자	자이스 코리아 현미경 솔루션 학술팀 정은진

FE-SEM을 이용한 관찰은 재료, 물질 R&D에 필수적인 요소가 되었습니다. 생산 단계 뿐만 아니라 거시적인 특성도 재료의 미세 구조와 연관이 있기 때문이죠.

마이크로/나노미터 규모의 구조와 매크로 규모의 특성을 연결하기 위해 많은 분들이 현미경을 사용하는데요, 사용성의 발전 덕분에 입문자부터 전문가에 이르기까지 연구실의 모든 팀원들이 쉽게 기술을 활용할 수 있게 되었습니다.

이번 웨비나를 통해 더욱 진보된 FE-SEM이 다양한 소재 분석과 특성화에서 최신 하드웨어와 소프트웨어 기술을 결합한 솔루션을 확인해 보세요!

{{ country.fda_text }}