ZEISS 3D Electron Microscopy Seminar for Multiscale Imaging
2019.10.30(수) 오전 10시, 연세대학교 학술정보관 7층 세미나실
연세대학교 공동기기원과 자이스 코리아에서 오는 10월 30일(수) 하루간 연세대학교에서 3D Electron Microscopy Seminar를 개최합니다.
이번 세미나에서는 FIB 원리 및 샘플 의뢰에 대한 해답을 찾고 단면 이미징, 2D/3D 이미징 기법, X-ray 현미경을 활용한 비파괴 분석법 등 다양한 주제를 다룹니다. 아래 자세한 프로그램 내용을 참조하시어 관심 있으신 분들의 많은 참여 부탁 드립니다.
- 개요
- 일정: 2019년 10월 30일(수) 오전 10시 - 오후 4시
- 장소: 연세대학교 학술정보관 7층 세미나실
- 인원: 선착순 100명
- 참고사항: 강의 자료, 점심, 다과 제공
- 신청: 아래 신청폼을 통해 신청
세부 프로그램
Time |
Contents |
Speaker |
10:00-10:30 |
연세대학교 공동기기원 소개 |
연세대학교 공동기기원 |
10:30-11:30 |
FIB 원리 및 스펙과 샘플 의뢰에 대한 해답 |
ZEISS Korea 박병준 부장 |
11:30-13:00 |
Lunch |
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13:00-13:50 |
FIB 단면 이미징 및 STEM 활용법 |
ZEISS Korea 박병준 부장 |
13:50-14:00 |
Break |
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14:00-15:00 |
Atlas 2D & 3D 이미징 |
ZEISS Korea 유지희 대리 |
15:00-15:10 |
Break |
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15:10-16:00 |
X-ray 현미경을 활용한 비파괴 분석 및 Laser |
ZEISS Korea 최민기 차장 |
16:00-17:00 |
공동기기원 장비 투어 |
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