ZEISS 3D Electron Microscopy Seminar for Multiscale Imaging

2019.10.30(수) 오전 10시, 연세대학교 학술정보관 7층 세미나실

연세대학교 공동기기원과 자이스 코리아에서 오는 10월 30일(수) 하루간 연세대학교에서 3D Electron Microscopy Seminar를 개최합니다.

이번 세미나에서는 FIB 원리 및 샘플 의뢰에 대한 해답을 찾고 단면 이미징, 2D/3D 이미징 기법, X-ray 현미경을 활용한 비파괴 분석법 등 다양한 주제를 다룹니다. 아래 자세한 프로그램 내용을 참조하시어 관심 있으신 분들의 많은 참여 부탁 드립니다. 

  • 개요
  • 일정: 2019년 10월 30일(수) 오전 10시 - 오후 4시
  • 장소: 연세대학교 학술정보관 7층 세미나실
  • 인원: 선착순 100명
  • 참고사항: 강의 자료, 점심, 다과 제공
  • 신청: 아래 신청폼을 통해 신청        

세부 프로그램

Time

Contents

Speaker

10:00-10:30

연세대학교 공동기기원 소개

연세대학교 공동기기원

10:30-11:30

FIB 원리 및 스펙과 샘플 의뢰에 대한 해답

ZEISS Korea 박병준 부장

11:30-13:00

Lunch

 

13:00-13:50

FIB 단면 이미징 및 STEM 활용법

ZEISS Korea 박병준 부장

13:50-14:00

Break

 

14:00-15:00

Atlas 2D & 3D 이미징

ZEISS Korea 유지희 대리

15:00-15:10

Break

 

15:10-16:00

X-ray 현미경을 활용한 비파괴 분석 및 Laser

ZEISS Korea 최민기 차장

16:00-17:00

공동기기원 장비 투어

 

신청하기