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ZEISS 현미경 무료 데모 프로그램

최적의 QAQC 작업을 위한 ZEISS 현미경 솔루션을 받아보세요!

ZEISS에서 제안하는 QAQC를 위한 현미경 솔루션에 주목해 주십시오. 특히 디지털 현미경 및 주사전자현미경을 활용해 다양한 분석에 적용하실 수 있습니다.

그레인 크기, 기공, 비금속 개재물 등 결함의 근본적인 원인 분석이 필요할 때
작업 현장 및 재료 실험실에서의 육안 검사
자동화된 광학 측정 시스템으로 운영자 영향 최소화
제조 과정에서 생산 체인의 모든 구성 요소 청결도 유지
에칭이나 코팅 등 표면 거칠기 및 3차원 지형 묘사 및 특성 분석

무료 데모·제품 문의

ZEISS 디지털현미경 - Smartzoom 5

디지털 자동 현미경: ZEISS Smartzoom 5

간단한 사용법으로 고해상도 2D, 3D 이미지 관찰 가능
대면적 자동 이미징 및 자동 보고서 작성
전동 줌렌즈, 스테이지, 카메라, 본체, 조명 모두 일체형
전자 현미경과 위치 정보 일치시키는 Correlative 현미경법으로 업그레이드 된 분석 가능

규격

대물렌즈: 0.5X, 1.6X, 5X, 10X
스테이지 기울기: +-45도
줌 배율: 10X
조명: LED Ring, Coaxial, Mixed, Pol
전자동: XYZ Stage, Zoom
모니터 사이즈: 21.5"

Application 1. PCB 기판 위 실장

Application 2. 마이크로칩 3D 형상

Application 3. LED

ZEISS SEM - EVO

주사 전자 현미경: ZEISS SEM - EVO

샘플의 Bias를 걸어주지 않아도 저전압에서 고해상도 이미지 구현
기존 Gemini 칼럼의 In-lens SE 보다 20배 높은 검출 기능 보유
향상된 VP 기능으로 높은 진공에서 분석하는 것과 같은 저진공 분석 가능

규격

Resolution: 2nm(LaB6), 3nm(W)
Detector: SE, BSE, CL, STEM, EDS/WDS, EBSD
소프트웨어 & 3rd Party: 대면적 이미징, 광학 현미경과 연동, In-situ 3rd party (Ex. hot, cooling 스테이지)

Correlative Microscopy

광학과 전자 현미경 연계 분석 솔루션

어떤 분석 방법인가요?

자이스에서는 광학과 전자 현미경을 연결해 마이크로와 나노 분석이 동시에 가능한 솔루션을 제공합니다. 특히 디지털 현미경(Smartzoom 5)과 주사전자현미경(SEM-EVO) 및 전계방출주사전자현미경(FE-SEM)간의 연계 분석이 있습니다.

언제 사용하면 유용한가요?

SEM 분석 시 불량 지점을 여러 군데 관찰해야 하는 경우
차징이 심한 시료의 경우
광학 현미경에서 관찰 후 특정 영역의 조성 분석을 알아야 할 경우
시료 분석 시 의도치 않는 물리 및 화학적 변화를 막고 싶은 경우

자세히 보기

광학 현미경 및 컨포컬 현미경

ZEISS Axio Lab.A1 MAT

반복되는 측정 및 결함 분석 작업에 최적의 정립 현미경
다양한 검경법 제공하는 4개의 반사용 모듈 장착 가능
전문적 편광 분석을 위한 편광 전용 스탠드 및 모듈

ZEISS Axio Vert.A1 MAT

크고 무거운 시료 분석을 위한 경제적인 도립 현미경
다양한 재료 분석 및 연구에 대응하는 검경법
대물렌즈 교체 자동 인식 기능 탑재

ZEISS Axioscope MAT

수동 현미경 버전도 대물렌즈 자동 인식 가능한 정립 현미경
다양한 재료 분석 및 연구 위한 turnkey 솔루션 제공
ZEN 소프트웨어 연동해 쉽고 정확한 측정 가능

ZEISS Axio Observer MAT

정확한 측정 및 분석을 위한 전자동 도립 현미경
단 한 번 초점 조정으로 모든 대물렌즈 사용 가능
재료 분석 전문 ZEN 소프트웨어 연동해 정확하고 재현성 측정 가능

ZEISS Axio Imager MAT

모든 검경법에 대응하는 최상의 전동 현미경
아포크로메틱 반사광 광경로를 통한 조명으로 고선명 및 고대비의 시료 관찰
ZEN 소프트웨어와 연동해 재현성 있는 측정 가능

ZEISS Smartzoom 5

전동 줌렌즈, 전동 X/Y/Z 스테이지, 카메라, 본체(터치형), 조명 모두 일체형인 디지털 자동 현미경
간단한 사용법으로 고해상도 2D, 3D 이미지 관찰 가능
대면적 자동 이미징 및 자동 보고서 작성

ZEISS Smartproof 5

공초점 원리 이용해 정밀한 표면 분석 가능한 이상적 와이드필드 컨포컬 현미경
사용자 중심 인터페이스로 반복 작업 쉽게 처리 및 공정 모니터링 작업에 적합
Spinning Disc, Aperture Correlation 기술 활용해 작업 시간 최소화 및 정확한 2D, 3D 분석

ZEISS LSM 900 MAT

핀홀을 이용한 공초점 현미경으로 특정 초점 면에서 선명한 이미지만을 취득하는 비접촉식 표면 측정 및 3차원 이미징 레이저 현미경
405nm 레이저에 최적화되어 있는 최고해상도의 대물렌즈 장착
다양한 검경법 및 2D, 3D 거칠기 측정 파라미터 제공

전자 현미경 및 X-ray 현미경

ZEISS SEM: EVO

반복되는 측정 및 결함 분석 작업에 최적의 정립 현미경
다양한 검경법 제공하는 4개의 반사용 모듈 장착 가능
전문적 편광 분석을 위한 편광 전용 스탠드 및 모듈

ZEISS FE-SEM: Sigma Family

나노 스케일 분석을 위한 전제 방출 스캐닝 전자 현미경
고품질의 이미지 구현하는 Gemini 칼럼과 짧은 작업거리의 분석 가능
이미지 네비게이션 기능 사용해 빠르고 쉽게 관심 영역 획득하고 저가속전압에서 안정적 이미지 구현

GeminiSEM 500 FE-SEM

ZEISS FE-SEM: GeminiSEM Family

어떠한 샘플에서도 저전압으로 서브나노미터 분석이 가능한 전계 방출 스캐닝 전자 현미경
기존 Gemini 칼럼의 In-lens SE 보다 20배 높은 검출 기능 보유
향상된 VP 기능으로 높은 진공에서 분석하는 것과 같은 저진공 분석 가능

ZEISS FIB: Crossbeam Family

나노 단위로 빠르게 샘플을 가공하고 이미지를 볼 수 있는 집속이온빔 주사전자현미경
모듈 형식의 구조는 큰 챔버와 다양한 3rd 장비로 사용자에 맞는 최신 연구 장비로 구성 가능
장시간 분석에도 일정하고 안정된 운용 가능

ZEISS Xradia Context microCT

대면적 분석 및 비파괴 3D X-ray 마이크로-단위의 tomography microCT 장비
견고한 스테이지 및 유연한 소프트웨어 및 검출기 활용
최대 25kg의 샘플까지 분석, 고해상도 및 세부 구성 성분 분석 가능

ZEISS Xradia 610 and 620 Versa

비파괴 분석 및 수백 나노미터의 분해능을 갖고 있는 X-ray 현미경
Diffraction contrast Tomography, Extended FOV Tomography에 적합
4D In-situ 분석, Dual Scan Contrast Visualizer, High Aspect Ratio Tomography에 활용

ZEISS Xradia 810 Ultra

싱크로트론 기술을 채택한 광학계로 X선의 흡수 및 위상 대비를 수십 나노스키로 보여주는 나노 스케일의 X-ray 현미경
50nm 분해능으로 비파괴 분석 및 4D 분석 가능
시간에 따라 다양하게 변수를 바꾸어가며 In-situ로 샘플의 구조적 변화 연구 가능

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