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ZEISS 현미경 무료 데모 프로그램
최적의 QAQC 작업을 위한 ZEISS 현미경 솔루션을 받아보세요!
ZEISS에서 제안하는 QAQC를 위한 현미경 솔루션에 주목해 주십시오. 특히 디지털 현미경 및 주사전자현미경을 활용해 다양한 분석에 적용하실 수 있습니다.
- 그레인 크기, 기공, 비금속 개재물 등 결함의 근본적인 원인 분석이 필요할 때
- 작업 현장 및 재료 실험실에서의 육안 검사
- 자동화된 광학 측정 시스템으로 운영자 영향 최소화
- 제조 과정에서 생산 체인의 모든 구성 요소 청결도 유지
- 에칭이나 코팅 등 표면 거칠기 및 3차원 지형 묘사 및 특성 분석

ZEISS 디지털현미경 - Smartzoom 5
디지털 자동 현미경: ZEISS Smartzoom 5
- 간단한 사용법으로 고해상도 2D, 3D 이미지 관찰 가능
- 대면적 자동 이미징 및 자동 보고서 작성
- 전동 줌렌즈, 스테이지, 카메라, 본체, 조명 모두 일체형
- 전자 현미경과 위치 정보 일치시키는 Correlative 현미경법으로 업그레이드 된 분석 가능
규격
- 대물렌즈: 0.5X, 1.6X, 5X, 10X
- 스테이지 기울기: +-45도
- 줌 배율: 10X
- 조명: LED Ring, Coaxial, Mixed, Pol
- 전자동: XYZ Stage, Zoom
- 모니터 사이즈: 21.5"
Application 1. PCB 기판 위 실장

Application 2. 마이크로칩 3D 형상

Application 3. LED


ZEISS SEM - EVO
주사 전자 현미경: ZEISS SEM - EVO
- 샘플의 Bias를 걸어주지 않아도 저전압에서 고해상도 이미지 구현
- 기존 Gemini 칼럼의 In-lens SE 보다 20배 높은 검출 기능 보유
- 향상된 VP 기능으로 높은 진공에서 분석하는 것과 같은 저진공 분석 가능
규격
- Resolution: 2nm(LaB6), 3nm(W)
- Detector: SE, BSE, CL, STEM, EDS/WDS, EBSD
- 소프트웨어 & 3rd Party: 대면적 이미징, 광학 현미경과 연동, In-situ 3rd party (Ex. hot, cooling 스테이지)
Correlative Microscopy
광학과 전자 현미경 연계 분석 솔루션

- 어떤 분석 방법인가요?
자이스에서는 광학과 전자 현미경을 연결해 마이크로와 나노 분석이 동시에 가능한 솔루션을 제공합니다. 특히 디지털 현미경(Smartzoom 5)과 주사전자현미경(SEM-EVO) 및 전계방출주사전자현미경(FE-SEM)간의 연계 분석이 있습니다.
- 언제 사용하면 유용한가요?
- SEM 분석 시 불량 지점을 여러 군데 관찰해야 하는 경우
- 차징이 심한 시료의 경우
- 광학 현미경에서 관찰 후 특정 영역의 조성 분석을 알아야 할 경우
- 시료 분석 시 의도치 않는 물리 및 화학적 변화를 막고 싶은 경우
광학 현미경 및 컨포컬 현미경

- 반복되는 측정 및 결함 분석 작업에 최적의 정립 현미경
- 다양한 검경법 제공하는 4개의 반사용 모듈 장착 가능
- 전문적 편광 분석을 위한 편광 전용 스탠드 및 모듈

- 크고 무거운 시료 분석을 위한 경제적인 도립 현미경
- 다양한 재료 분석 및 연구에 대응하는 검경법
- 대물렌즈 교체 자동 인식 기능 탑재

- 수동 현미경 버전도 대물렌즈 자동 인식 가능한 정립 현미경
- 다양한 재료 분석 및 연구 위한 turnkey 솔루션 제공
- ZEN 소프트웨어 연동해 쉽고 정확한 측정 가능

- 정확한 측정 및 분석을 위한 전자동 도립 현미경
- 단 한 번 초점 조정으로 모든 대물렌즈 사용 가능
- 재료 분석 전문 ZEN 소프트웨어 연동해 정확하고 재현성 측정 가능

- 모든 검경법에 대응하는 최상의 전동 현미경
- 아포크로메틱 반사광 광경로를 통한 조명으로 고선명 및 고대비의 시료 관찰
- ZEN 소프트웨어와 연동해 재현성 있는 측정 가능

- 전동 줌렌즈, 전동 X/Y/Z 스테이지, 카메라, 본체(터치형), 조명 모두 일체형인 디지털 자동 현미경
- 간단한 사용법으로 고해상도 2D, 3D 이미지 관찰 가능
- 대면적 자동 이미징 및 자동 보고서 작성

- 공초점 원리 이용해 정밀한 표면 분석 가능한 이상적 와이드필드 컨포컬 현미경
- 사용자 중심 인터페이스로 반복 작업 쉽게 처리 및 공정 모니터링 작업에 적합
- Spinning Disc, Aperture Correlation 기술 활용해 작업 시간 최소화 및 정확한 2D, 3D 분석

- 핀홀을 이용한 공초점 현미경으로 특정 초점 면에서 선명한 이미지만을 취득하는 비접촉식 표면 측정 및 3차원 이미징 레이저 현미경
- 405nm 레이저에 최적화되어 있는 최고해상도의 대물렌즈 장착
- 다양한 검경법 및 2D, 3D 거칠기 측정 파라미터 제공
전자 현미경 및 X-ray 현미경

- 반복되는 측정 및 결함 분석 작업에 최적의 정립 현미경
- 다양한 검경법 제공하는 4개의 반사용 모듈 장착 가능
- 전문적 편광 분석을 위한 편광 전용 스탠드 및 모듈

- 나노 스케일 분석을 위한 전제 방출 스캐닝 전자 현미경
- 고품질의 이미지 구현하는 Gemini 칼럼과 짧은 작업거리의 분석 가능
- 이미지 네비게이션 기능 사용해 빠르고 쉽게 관심 영역 획득하고 저가속전압에서 안정적 이미지 구현

ZEISS FE-SEM: GeminiSEM Family
- 어떠한 샘플에서도 저전압으로 서브나노미터 분석이 가능한 전계 방출 스캐닝 전자 현미경
- 기존 Gemini 칼럼의 In-lens SE 보다 20배 높은 검출 기능 보유
- 향상된 VP 기능으로 높은 진공에서 분석하는 것과 같은 저진공 분석 가능

- 나노 단위로 빠르게 샘플을 가공하고 이미지를 볼 수 있는 집속이온빔 주사전자현미경
- 모듈 형식의 구조는 큰 챔버와 다양한 3rd 장비로 사용자에 맞는 최신 연구 장비로 구성 가능
- 장시간 분석에도 일정하고 안정된 운용 가능

- 대면적 분석 및 비파괴 3D X-ray 마이크로-단위의 tomography microCT 장비
- 견고한 스테이지 및 유연한 소프트웨어 및 검출기 활용
- 최대 25kg의 샘플까지 분석, 고해상도 및 세부 구성 성분 분석 가능

ZEISS Xradia 610 and 620 Versa
- 비파괴 분석 및 수백 나노미터의 분해능을 갖고 있는 X-ray 현미경
- Diffraction contrast Tomography, Extended FOV Tomography에 적합
- 4D In-situ 분석, Dual Scan Contrast Visualizer, High Aspect Ratio Tomography에 활용

- 싱크로트론 기술을 채택한 광학계로 X선의 흡수 및 위상 대비를 수십 나노스키로 보여주는 나노 스케일의 X-ray 현미경
- 50nm 분해능으로 비파괴 분석 및 4D 분석 가능
- 시간에 따라 다양하게 변수를 바꾸어가며 In-situ로 샘플의 구조적 변화 연구 가능