SNU NICEM - 전자 현미경 교육 세미나

2019.11.29(금), 서울대학교 관악캠퍼스 NICEM 201동 101호 대강당

오는 11월 29일(금) 서울대학교 NICEM에서 FE-SEM 및 FIB의 다양한 분석법 교육 세미나가 열립니다.  아래 자세한 내용을 확인해주시고, 관심 있으신 분들의 많은 참석 부탁 드립니다.

  • 일시 : 11월 29(금) 오전 10시 - 오후 4시 40분
  • 장소 : 서울대학교 관악캠퍼스 NICEM 201동 101호 대강당
  • 주최: ZEISS Korea 및 서울대학교 NICEM
  • 대상: FE-SEM, FIB 장비 사용자 또는 전자현미경을 활용한 다양한 Application에 대해 좀 더 자세히 알고 싶은 분들
  • 문의 : 현미경 솔루션 사업부 (Email)

 

 

GeminiSEM 500 FE-SEM

ZEISS FE-SEM: GeminiSEM Family

세부 프로그램

Time Content Speaker

09:30 - 10:00

등록

-

10:00 - 10:40

SEM, FE-SEM 기본 이론

김소영 대리 (ZEISS)

10:40 - 11:10

FE-SEM 검출기 활용

유지희 대리 (ZEISS)

11:10 - 11:20

Break

 

11:20 - 12:00

FIB 기본 이론 

유지희 대리 (ZEISS)

12:00 - 13:00

점심식사

 

13:00 - 13:50

비전도성 및 빔에 민감한 샘플 분석법

최민기 차장 (ZEISS)

13:50 - 14:00

Break

 

14:00 - 14:50

효과적인 이미징을 위한 전자 현미경 전처리 및 이미지 프로세싱

박병준 부장 (ZEISS)

14:50 - 15:00

Break

 

15:00 - 16:40

EDS/FlatQUAD/XRF 분석 Trend

최성지 과장 (브루커 코리아)

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