SNU NICEM - 전자 현미경 교육 세미나

2019.11.29(금), 서울대학교 관악캠퍼스 75-1동 214호

오는 11월 29일(금) 서울대학교에서 FE-SEM 및 FIB의 다양한 분석법 교육 세미나가 열립니다.  아래 자세한 내용을 확인해주시고, 관심 있으신 분들의 많은 참석 부탁 드립니다.

  • 일시 : 11월 29(금) 오전 10시 - 오후 4시 40분
  • 장소 : 서울대학교 관악캠퍼스 75-1동 204호
  • 주최: ZEISS Korea 및 서울대학교 NICEM
  • 대상: FE-SEM, FIB 장비 사용자 또는 전자현미경을 활용한 다양한 Application에 대해 좀 더 자세히 알고 싶은 분들
  • 문의 : 현미경 솔루션 사업부 (Email)

 

 

GeminiSEM 500 FE-SEM

ZEISS FE-SEM: GeminiSEM Family

세부 프로그램

Time Content Speaker

09:30 - 10:00

등록

-

10:00 - 10:50

효과적인 이미징을 위한 전자 현미경 전처리 및 이미지 프로세싱

박병준 부장 (ZEISS)

10:50 - 11:00

Break

 

11:00 - 11:40

SEM, FE-SEM 기본 이론

김소영 대리 (ZEISS)

11:40 - 12:15

FE-SEM 검출기 활용 

유지희 대리 (ZEISS)

12:15 - 13:10

점심식사

 

13:10 - 13:55

FIB 기본 이론

유지희 대리 (ZEISS)

13:55 - 14:00

Break

 

14:00 - 14:50

비전도성 및 빔에 민감한 샘플 분석법

최민기 차장 (ZEISS)

14:50 - 15:00

Break

 

15:00 - 16:40

EDS/FlatQUAD/XRF 분석 Trend

최성지 과장 (브루커 코리아)

신청 마감: 문의 메일로 연락 주세요