이벤트 현미경 및 이미징 솔루션

Webinar - Principios básicos de microscopía electrónica de barrido

일시

2022. 05. 25  11:00 - 12:00

장소

Mexico / Mexico City

주최

Ponente: Dr. David Giraldo

Fecha y horario: Mayo 25 | 11:00 am - 12:00 pm.
Lugar: Carl Zeiss México, CDMX, México

Resumen: El microscopio electrónico de barrido (MEB o SEM, por Scanning Electron Microscope) es un tipo de microscopio electrónico capaz de producir imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra utilizando las interacciones electrón-materia. Aplica un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen, en esta ocasión repasaremos los principios básicos de operación del equipo además de las diferentes aplicaciones de esta técnica.

Link de registro: https://zeiss.ly/emwebinarmx