품질 보장을 위한 3D X-ray 측정 ZEISS METROTOM

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문의 사항

ZEISS METROTOM을 이용한 산업용 컴퓨터 단층촬영

ZEISS의 산업용 컴퓨터 단층촬영 장비를 이용하면 단 한 번의 X-ray 스캔으로 측정과 검사를 성공적으로 수행할 수 있습니다. 표준 인수 검사, 정밀 공학 기술, 정교한 교정 공정으로 장비의 추적 가능성을 보장합니다. 선형 가이드웨이와 회전 테이블은 정밀성에 대한 고객의 높은 요구를 충족시킵니다.  

ZEISS METROTOM을 이용하여 간편하게 측정

경금속 부품 측정 검사

경금속 부품 측정 검사

모든 부품의 측정 및 검사

ZEISS METROTOM은 플라스틱이나 경금속으로 만든 모든 부품을 측정하고 검사하기 위한 산업용 단층촬영 장비입니다. 기존의 측정 기술로 눈에 보이지 않는 구조를 검사하려면 오랜 시간을 소모하며 부품을 한 층씩 파괴해야 합니다.

베이스 플러그의 측정

베이스 플러그의 측정

수많은 특성을 간편하고 정밀하게 측정

ZEISS METROTOM 단층촬영 장비를 이용하면 수많은 부품 특성을 단 한 번에 스캔할 수 있습니다. 측정 결과는 정밀하며 추적 가능합니다. ZEISS METROTOM은 접촉식 측정보다 훨씬 더 신속하게 수많은 측정 포인트를 캡처합니다.

ZEISS CT 시각화 및 분석 평가 소프트웨어

ZEISS CT 시각화 및 분석 평가 소프트웨어

간편한 운영 소프트웨어로 직관적인 사용

ZEISS METROTOM OS 장비 소프트웨어 사용법을 단기간 배우면 작업자는 부품을 단층촬영하고 부품의 내부를 관찰할 수 있습니다. ZEISS CALYPSO를 이용하여 CT 데이터를 분석 평가하고, ZEISS PiWeb을 활용하여 결과를 종합 측정 보고서에 신속하게 반영할 수 있습니다.

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