ACADEMY

ZEISS arivis Image Analysis Academy

이미지 분석 속도·효율 향상
자이스 코리아 브랜드 센터 (서울 문정)
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ZEISS arivis Image Analysis Academy

점점 커지는 이미지 데이터와 복잡한 분석 과정 속에서
보다 빠르고 정확하게 정량 데이터를 추출하는 것은 연구의 중요한 경쟁력이 되고 있습니다.

ZEISS arivis Image Analysis Academy에서는 arivis의 AI 기반 분석과 자동화 기능을 활용하여 대용량 이미지에서 핵심 데이터를 효과적으로 추출하는 방법을 소개합니다.

특히, Hands-on 세션을 통해 실제 데이터를 기반으로 분석 과정을 직접 경험해 보실 수 있습니다.
이번 교육을 통해 다음과 같은 전문적이고 효율적인 기술을 익혀보세요!

  • 대용량 3차원 이미지 시각화 및 영상화 방법
  • 형광 신호의 밝기 측정 기반 관심 영역 정량 분석 방법
  • 직관적이고 사용하기 쉬운 Cellpose를 활용한 이미지 분석 방법
  • AI 기반 이미지 분석을 통한 고도화된 분석 기법

- 일시: 2026년 4월 23일 (목) 오후 1시 - 4시 30분
- 장소: 자이스 코리아 브랜드센터 (서울특별시 송파구 법원로 135, 소노타워 1층)

이미지 크기에 상관없는, 다양한 포맷 지원, AI 기반

arivis는 ZEISS의 고급 이미지 분석 플랫폼으로, 대용량 2D, 3D, 4D 이미지 데이터를 자동화된 방식으로 분석하고 시각화할 수 있는 통합 솔루션입니다. 직관적인 인터페이스와 AI 기반 워크플로우를 통해 복잡한 분석 과정을 단순화하고, 연구자는 데이터 해석과 인사이트 도출에 더욱 집중할 수 있습니다.

arivis는 대용량 이미지 시각화, 정량 분석, AI 기반 세그멘테이션을 포함한 다양한 기능을 지원하며, 사용자 맞춤형 분석 파이프라인을 통해 반복적인 작업을 자동화하고 높은 재현성을 확보할 수 있습니다.
이를 통해 복잡한 이미지 데이터에서도 신뢰성 있는 정량 결과를 효율적으로 도출할 수 있습니다.

Applications

ZEISS arivis를 통한 고급 분석
Cell Counting
Cell Counting

오가노이드 부피 정량화

AI를 활용하여 오가노이드의 세포층 형성 변화 및 단일 세포 수준의 영향을 분석하세요. 신뢰할 수 있는 이미지 분할을 통해 독성 분석, 약물 스크리닝 및 질환 모델에서 오가노이드의 성장과 분화에 미치는 영향을 보다 정밀하게 정량화할 수 있습니다.

Confluency
Confluency

세포 밀집도. 세포 또는 핵 총계

AI를 활용하여 세포 밀집도를 카운팅하고, 세포나 핵을 손쉽게 카운트할 수 있습니다. 이 모델은 시계열 데이터 및/또는 다중 웰 플레이트 데이터에도 적용 가능합니다. 이를 통해 대규모 이미지 데이터에서도 빠르고 일관된 정량 분석을 수행할 수 있습니다.

Gene Expression
Gene Expression

DNA 점상 구조 분석

사전 학습된 AI 모델 또는 맞춤형 AI 모델을 활용해 3D에서 점상 구조와 핵을 개별적으로 분할할 수 있습니다. 정확하게 분할한 후에는 다양한 유전적 배경, 약물 처리 조건 또는 기타 환경에 따라 관계를 정의하고 정량화할 수 있습니다.

Spot Detection
Spot Detection

표현형 스크리닝

약물 처리 조건에 따른 세포 표현형의 변화를 단일 세포 및 웰 플레이트 수준에서 손쉽게 모니터링할 수 있습니다. AI 기반의 처리 워크플로우를 통해 전체 스크리닝 실험에서 재현 가능하고 신뢰할 수 있는 결과를 확보할 수 있습니다.

아카데미 세부 사항

시간표

Time

Content

Speaker

13:00 - 13:30

Registration & Greeting

13:30 - 14:15

Introduction of arivis

Garcia, Delisa

14:15 - 14:30

Break

14:30 - 16:00

Hands on

Hyungjin Kim
PASS team ZEISS Korea

16:00 - 16:20

Introduction of arivis cloud

Hyungjin Kim
PASS team ZEISS Korea

16:20 - 16:30

Q&A / Closing

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  • 행사명 : ZEISS arivis Image Analysis Academy
  • 일시 : 2026년 4월 23일 (목), 오후 1시 ~ 오후 4시 30분
  • 장소 : 자이스 코리아 브랜드 센터
    (서울특별시 송파구 법원로 135, 소노타워 1층)
  • ZEISS arivis Image Analysis Academy

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* 본 아카데미의 참석 가능 인원은 최대 25명이며, 신청 순서에 따라 선착순 마감될 수 있습니다.

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